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美標(biāo)沖擊試樣機(jī)缺口投影儀

發(fā)布日期:2021-04-26 文章來(lái)源:未知 瀏覽量:次 作者:admin

導(dǎo)讀: CST-50A型美標(biāo) 沖擊試樣機(jī) 缺口投影儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì),以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,檢查對(duì)比直觀,效率高。
?????? CST-50A型美標(biāo)沖擊試樣機(jī)缺口投影儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì),以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,檢查對(duì)比直觀,效率高。
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